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非晶材料磁阻抗測(cè)試儀 BKT-4A
性能參數(shù):
1. 系統(tǒng)控制主機(jī):1路恒流源0.3mA~50mA;2路4 1/2數(shù)字電壓表;1塊USB接口24bit數(shù)據(jù)采集卡;功耗:<50W。
2. 自動(dòng)掃描電源:0~±5A,磁場(chǎng)掃描速率:0.01A/s~1.0A/S。
3. 亥姆霍茲線圈:0~±150Gs;直徑:Φ260mm;均勻區(qū):30x30mm。
4. 探頭電路技術(shù)參數(shù):輸入信號(hào)動(dòng)態(tài)范圍:±30 dB;輸出電平靈敏度:30mV / dB;,輸出電流:8mA;,轉(zhuǎn)換速率:25 V /μs;相位測(cè)量范圍:0~180°;相位輸出時(shí)轉(zhuǎn)換速率:30MHz;響應(yīng)時(shí)間:40 ns~500 ns;測(cè)量夾頭間隔10mm。
5. 計(jì)算機(jī):PC兼容機(jī),Windows XP、Windows 7操作系統(tǒng)。
6. 數(shù)據(jù)采集軟件:運(yùn)行環(huán)境Windows XP、Windows 7操作系統(tǒng)。
功能用途:
可測(cè)量非晶材料磁阻抗特性:Z/Θ,R/X隨意磁場(chǎng)的變化,頻率范圍1mHz~40MHz。
測(cè)試樣品送樣要求:
細(xì)絲狀樣品長(zhǎng)度大于10mm